鍵合強度檢測項目及指標(biāo)
時間:2023-01-05 16:18:03 點擊次數(shù):0次
鍵合強度檢測范圍
芯片鍵合強度,引線鍵合強度,晶圓鍵合強度,硅片鍵合強度,半導(dǎo)體封裝鍵合強度,LED鍵合強度,化學(xué)鍵合強度,高分子材料鍵合強度,玻璃鍵合強度等。
檢測項目:鍵合強度檢測
檢測報告有哪些用途?
1、銷售使用。
2、研發(fā)使用。
3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。
4、科研論文數(shù)據(jù)使用。
5、質(zhì)量控制使用。
鍵合強度檢測標(biāo)準(zhǔn)
CEI EN 62047-9-2012半導(dǎo)體器件.微機電器件.第9部分:微機電系統(tǒng)的晶片間鍵合強度測量
GB/T 4937.22-2018半導(dǎo)體器件 機械和氣候檢測方法 第22部分:鍵合強度
GB/T 28277-2012硅基MEMS制造技術(shù) 微鍵合區(qū)剪切和拉壓強度檢測方法
溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請加微信或電聯(lián)。