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晶體硅太陽能電池與硅片檢測

產(chǎn)品時間: 2023-10-11 15:25:13

簡要描述:

樣品的檢測報告如何辦理?檢測的范圍和標(biāo)準(zhǔn)有哪些?今天百檢檢測小編帶您了解相關(guān)檢測業(yè)務(wù)具體需要哪些檢測,同時百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計檢測方案。展現(xiàn)樣式:電子版檢測周期:3-15個工作日(可加急)報告資質(zhì):CNAS、CMA、CAL等檢測項目:掃描電鏡形貌分析,電極柵線寬高比,硅片方塊電阻及電阻率,能譜法半定量分析檢測標(biāo)準(zhǔn):1、GB/T14141-2009硅外延層、擴散層和離子注入層...

詳細(xì)介紹

樣品的檢測報告如何辦理?檢測的范圍和標(biāo)準(zhǔn)有哪些?今天百檢檢測小編帶您了解相關(guān)檢測業(yè)務(wù)具體需要哪些檢測,同時百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計檢測方案。

展現(xiàn)樣式:電子版

檢測周期:3-15個工作日(可加急)

報告資質(zhì):CNAS、CMA、CAL等

檢測項目:

掃描電鏡形貌分析,電極柵線寬高比,硅片方塊電阻及電阻率,能譜法半定量分析

檢測標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T 14141-2009 硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定 直排四探針法

2、JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則

3、GB/T 1551-2009 硅單晶電阻率測定方法 方法1

4、SEMI PV66-0715-2015 光伏電池電極柵線高寬比的測量: 激光掃描共聚焦顯微鏡法

5、GB/T 1551-2021 硅單晶電阻率測定方法 GB/T 1551-2021

6、GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析

檢測檢測特點:

1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;

2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;

3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準(zhǔn)

4、免費初檢,初檢不收取檢測費用

5、自助下單 快遞免費上門取樣;

6、周期短,費用低,服務(wù)周到;

7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);

8、檢測報告權(quán)威有效、國內(nèi)通用;

 


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